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Diffraction X, microdiffraction X et microfluorescence X sous rayonnement synchrotron et analyses comparées pour la caractérisation des inclusions. Application à l'étude de l'évolution historique des procédés d'élaboration des objets ferreux (procédés direct et indirect)
Type de document : Travaux universitaires
Edité par (S.l. : s.n.), 1998 - 1998
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