Imaging secondary ion mass spectrometry of a paint cross section taken from an early netherlandish painting by Rogier van der Weyden = Madrid - Prado - LRMH-SIGB

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Imaging secondary ion mass spectrometry of a paint cross section taken from an early netherlandish painting by Rogier van der Weyden = Madrid - Prado

Article

Auteur(s) :
KEUNE (K.) | BOON (J. J.)

Date de parution : 2004

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Note

Extr. de : Analytical chemistry, ISSN 0003-2700, 2004, vol. 76, n°5, p. 1374-1385. Réf. bibliogr.

Description physique: 12 p. : ill. en coul. ; 30 cm.

Date de publication: 2004
Revue: Analytical chemistry

Cote: F426

ISSN: 0003-2700

Sujets: Peinture ; Échantillon ; Analyse ; Pigment ; Liant ; Spectrométrie ; SIMS ; TOF ; IRTF ; MEB ; EDX ; Microscopie ; Spectrométrie de masse ; Méthode temps de vol ; Matériau organique ; Coupe stratigraphique ; Art flamand

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