Spectrométrie de fluorescence X

La spectrométrie de fluorescence X permet une identification globale des éléments chimiques. C'est une analyse non destructive qui s'effectue directement sur l'échantillon. Elle permet de connaître la composition élémentaire de l'échantillon(calcium, fer, zinc, etc.) ; cette analyse globale sera ensuite affinée, à partir des mêmes échantillons, grâce à d'autres méthodes analytiques (MEB-EDS, IRTF, etc.).


Matériel utilisé

Spectromètre EX 3500, Baird-Jordan Valley JVAR

Principe de fonctionnement

Schéma de la technique d'analyse par fluorescence X

Représentation schématique de la technique d'analyse par fluorescence X
(EDXRF : dispersion d'énergie ; WDXRF : dispersion de longueur d'onde)


Principe : un faisceau de rayons X est projeté sur l'échantillon à étudier. Les éléments de celui-ci, absorbent l'énergie ainsi reçue et la restitutent sous forme de fluorescence, les radiations émises dépendant des sauts d'énergie des électrons entre les différentes couches électroniques des atomes, et sont donc caracctéristique de chacun des éléments. Cette émission se traduit donc par un pic d'énergie caractéristique (pour le fer, le plomb, etc.), lequel est mesuré par un détecteur qui transforme les paramètres de l'émission en valeurs physiques permettant de visulaliser l'émission sous forme de pics caractéristiques des divers éléments présents dans l'échantillon. On obtient ainsi une analyse élémentaire, c. à d. une analyse qui fournit la liste des éléments (Fe, Pb, Cu, etc.) de façon qualitative ou semi quantitative (on peut déterminer les éléments majeurs, mineurs, et les traces).